PathFinder

      PathFinder 是一个基于版图的静态放电(ESD)检查综合性解决方案,其目标是解决纳米级设计所面临的越来越多的可靠性方面的挑战。PathFinder 具有建模、提取和仿真的能力,可以自动化的对整颗芯片进行详细的分析,然后突出显示出设计中容易引发 ESD 失效的地方。PathFinder 还可以为输入输出(I/O)、模拟和混合信号设计提供晶体管级的动态 ESD 性能验证能力。

      凭借分析全芯片级规模的能力和类似 SPICE 仿真精确度的结果,PathFinder 可以帮助设计者在早期原型、电路优化和芯片验收的三个阶段来做分析,帮助设计者找到设计中最薄弱的地方,使其满足 ESD 指标要求并提升产品良率。

主要优点

● 高容量高性能静态 ESD 验证,将实例单元规模上亿且包含了芯片电源网络和封装寄生参数的 ESD 分析缩短至数小时。

● ESD 早期分析,支持在没有版图的情况下评估 ESD 器件的位置和数量

● 涵盖整颗芯片的各种 ESD 事件的分析,例如人体模型(HBM)、机器模型(MM)和带电装置模型(CDM)

● 形式多样的电阻分析方法:BUMP 到 BUMP,BUMP 到 ESD 器件,ESD 器件到其他 ESD 器件,例化单元到 ESD 器件

● 十万门级模块的 SPICE 精度动态 ESD 仿真模拟,包含仿真 ESD 器件和其电压转折特性 ● 友好的基于版图的图形化界面环境,多种丰富的故障调试功能:交叉探查(CrossProbing)、假定推断(What-If)分析和失效器件分级排名等

● IP 重要连线电阻的检查,例如 PLL,ADC 等

主要功能

芯片级 ESD 规划和签核

● 布局和连接性验证

● 电阻验证

● 电流密度检查

模块级 ESD 动态仿真模拟

● ESD 器件建模(例如:电压钳位单元)

● SPICE 仿真精度的电路分析和优化

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